Peek ic teszt szubsztrát

Peek tesztülés

IC teszt aljzatok (Teszt aljzatok, teszt aljzatok) fontos szerelvények a félvezető tesztelési folyamatban. Megbízható és mechanikusan stabil csatlakozási pontot biztosít, lehetővé téve a tesztelők számára, hogy teszteljék a chipeket, ellenőrizzék a gyártási hibákat és az alkatrészek hibáit anélkül, hogy állandó forrasztás vagy az áramköri táblákra történő telepítés lenne.

Amikor az IC chipeket egyedülállónak vetik alá-A chip -ellenőrzés, egy olyan tesztaljzat, amely magas hőmérsékleten dimenziósan stabil marad, és több tízezer érintkezési súrlódás ellenáll. A peek anyagból készült IC teszt aljzatok a következő jobb előnyökkel rendelkeznek:

A Peek magas hőmérsékleten képes ellenállni anagyon magas statikus terheléseknek, stabil magas sávszélességgel, alacsony ellenállással és alacsony induktivitással.

2. A peek a kiváló mérettartományban képes fenntartani a kiváló dimenziós stabilitást. Hosszú ideig képes magas hőmérsékleten működni 260 ℃, és alkalmazkodhat a munkakörnyezethez -40 ℃ - 125 ℃ ℃, a tesztelési követelmények teljesítése különféle szélsőséges körülmények között, és biztosítva a magasságot-Az IC tesztállványok precíziós dimenziós stabilitása működés közben.

3. A peeknagy szilárdságú és rendkívülnagy kopásállósággal rendelkezik. Több tízezer érintkezési súrlódás ellen képes ellenállni az IC chipeknek, biztosítva az IC tesztállványok megbízhatóságát.

A technológia fejlesztésével a félvezető chipek tranzisztor sűrűsége egyrenagyobb és magasabb, és a kapcsolódó termékek bonyolultsága és integrációja exponenciálisannövekszik. Ez példátlan kihívást jelent a chip -tervezés és fejlesztés szempontjából.

Időközben, amint a chip -fejlesztési ciklus lerövidül, a szalag sikeres arányának követelménye-A kint egyre magasabbra válik. Bármely kudarc hatalmas veszteséget jelent a vállalkozások számára. Ezenkívül a félvezető gyártási folyamat folyamatosan javul, aminagyszámú technikai kihívást igényel. A félvezető tesztelés az egész IC iparág láncán halad át.