Тестовий підкладка Peek IC

Тестове сидіння Peek

IC тестові розетки (Тестові розетки, тестові розетки) важливі світильники в процесі тестування напівпровідника. Він забезпечує надійну та механічно стабільну точку з'єднання, що дозволяє тестерам випробовувати мікросхеми, перевірити наявність дефектів та несправностей компонентів без необхідності постійної паяльної пайки або встановлення на платах.

Коли мікросхеми ІС піддаються одиночній-Інспекція чіпів, тестова розетка, яка залишається розмірно стабільною при високих температурах і може витримати десятки тисяч контактних тертя. ІС -тестові розетки, виготовлені з матеріалу Peek, мають такі кращі переваги:

Peek може витримувати дуже високі статичні навантаження при високих температурах, що мають стабільну високу пропускну здатність, низький опір та низьку індуктивність.

2. Peek може підтримувати відмінну розмірну стабільність у широкому діапазоні температури. Він може тривалий час працювати при високій температурі 260 ℃ та адаптуватися до робочих умов із -40 ℃ до 125 ℃, дотримуючись вимог до тестування в різних екстремальних умовах та забезпечуючи високу-точна розмірна стійкість тестових стендів ІС під час роботи.

3. Peek має високу міцність і має надзвичайно високу стійкість до зносу. Він може витримати десятки тисяч контактних тертя мікросхем ІС, забезпечуючи надійність тестових стендів ІС.

З розвитком технології транзисторна щільність напівпровідникових мікросхем стає вищою і вищою, а складність та інтеграція суміжних продуктів зростають експоненціально. Це створює безпрецедентний виклик для розробки та розробки мікросхем.

Тим часом, як скорочується цикл розвитку чіпів, вимога до рівня успішності стрічки-Вихід стає все вище і вище. Будь -яка невдача - це величезна втрата для підприємств. Крім того, процес виробництва напівпровідників постійно вдосконалюється, що вимагає зіткнення з великою кількістю технічних проблем. Напівпровідникове тестування проходить через весь ланцюжок галузі ІС.