PEEK IC Testsubstrat

Teststol

IC -testuttag (testuttag, testuttag) är viktiga fixturer i halvledartestningsprocessen. Det ger en pålitlig och mekaniskt stabil anslutningspunkt, vilket gör att testare kan testa chips, kontrollera för tillverkningsfel och komponentfel utan behov av permanent lödning eller installation på kretskort.

När IC -chips utsätts för singel-Chipinspektion, ett testuttag som förblir dimensionellt stabilt vid höga temperaturer och tål tiotusentals kontaktfriktioner krävs. IC -testuttag gjorda av Peek -material har följande bättre fördelar:

PEEK kan tåla mycket höga statiska belastningar vid höga temperaturer, med stabil hög bandbredd, låg motstånd och låg induktans.

2. PEEK kan upprätthålla utmärkt dimensionell stabilitet över ett brett temperaturområde. Det kan fungera vid en hög temperatur på 260 ℃ under lång tid och anpassa sig till arbetsmiljöer från -40 ℃ till 125 ℃, uppfyller testkraven under olika extrema förhållanden och säkerställer de höga-Precisionsdimensionell stabilitet hos IC -test står under drift.

3. Peek är av hög styrka och har extremt hög slitstyrka. Det kan tåla tiotusentals kontaktfriktioner av IC -chips, vilket säkerställer tillförlitligheten för IC -teststativ.

Med teknikutvecklingen blir transistortätheten för halvledarchips högre och högre, och komplexiteten och integrationen av relaterade produkter växer exponentiellt. Detta utgör en enastående utmaning för chipdesign och utveckling.

Under tiden,när chiputvecklingscykeln förkortar, kravet på tejpens framgångsgrad-Ut blir högre och högre. Varje misslyckande är en enorm förlust för företag. Dessutom förbättras halvledartillverkningsprocessen ständigt, vilket kräver att ett stort antal tekniska utmaningar står inför. Halvledartestning går genom hela IC -industrikedjan.